Joseph I. Goldstein, Goldstein: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

CHF 65.00
Einband: Kartonierter Einband (Kt)
Verfügbarkeit: Nicht (mehr) im Sortiment/Besorgung möglich
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ISBN: 978-1-4939-6675-2
GTIN: 9781493966752

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